CISC RAIN Xplorer Inline

CISC  RAIN  Inline  Xplorer ：生产线 RFID Inlay和标签的高速测试、编码和加密设备。可集成到任何生产线。

主要优点

1）在生产线对标签进行高速性能测试，提供 GPIO 接口用于生产线同步及触发，开放API实现完全自动化控制，坏标弱标标记选项；

2）不降低或限制生产速度

3）支持多个测试点

4）支持多通道测试

主要特点

1）测试频率从 800 MHz至1 GHz  

2）发射功率范围从-10dBm到28dBm  

3）灵敏度-80dBm 

4）读取EPC、TID和存储器数据

5）写入EPC和存储区数据（编码写码）  

6）测量标签在不同频率下的灵敏度  

7）单次读取EPC的测试时间起始为6毫秒

8）集成SAM（安全访问模块）

CISC NFC Xplorer Inline

NFC  Xplorer  Inline：生产线中 NFC Inlay 和标签的高速测试、编码和加密设备。可集成到任何生产线。

主要优点

1、在生产线对标签进行高速性能测试，提供 GPIO 接口用于生产线同步及触发，开放API实现完全自动化控制，坏标弱标标记选项

2、不降低或限制生产速度

3、支持多通道测试

主要特点

1、测试频率为13.56NHz 

2、可变 H 场强度

3、完全支持 1 到 6 类标签

4、支持读写模式，可用于编码和写入个性化信息

5、支持 ISO/IEC 14443 A+B 和 15693 标准

6、测试速度可达每小时 10 万件

CISC RAIN Xplorer300

RAID Xplorer300分为测试读写器的RAID Xplorer300R和测试标签的RAID Xplorer300T：

RAID Xplorer300R用于测量读写器的性能和一致性；嗅探功能可监听读写器和标签之间的通信。读写器性能测试、规范测试：

  1）Tx VS Rx灵敏度、BLF  VS  Rx灵敏度测量。

  2）接收灵敏度稳定性监控

  3）相位及阻抗变化对接收灵敏度的影响测量

  4）真实反映读写器与标签之间的通信

  5）通过标签仿真模块监控场强

  6）读写器规范性测试

RAID Xplorer300T：用于测量RFID Inlay或标签性能。

  1）标签唤醒、反向功率及距离测试

  2）标签方向灵敏度测试

  3）标签反向曲线测试

  4）标签数据解码、指令时序、功率及占空比测量

  5）ISO/IEC29167加密套件规范性等功能

  6）支持SINIAV、ARTESP及Brasil-ID协议

NFC  Xplorer

测量 NFC 标签的性能和一致性的 NFC 实验室测试仪器，NFC读写器可通过嗅探器功能进行测试。

主要特点：

1、高精度 

2、快速且易于使用的图形用户界面 

3、支持多种协议 

4、标准和用户自定义命令 

测试模式 ：

1、标签性能和一致性 

2、读写器--标签通信和射频信号分析 

支持的标准和协议 

1、通信协议 

   ISO/IEC 14443 A 

   ISO/IEC 14443 B 

   ISO/IEC 15693, 

   ISO/IEC 18000-3M1 

   ISO 18092 NFC 

 2、测试标准 

   ISO/IEC 10373-6 

   ISO/IEC 10373-7