唐领科技精彩亮相 IOTE 2020深圳国际物联网展

7月31日，为期3天的IOTE 2020第十四届国际物联网展·深圳站在深圳福田会展中心完美落幕。此次展会以“数智新基，万物生G”为主题，聚焦5G新基建、智慧城市、工业物联网落地场景，致力于为物联网产业界人士搭建一个资源互换、利益共享、合作共进的大平台。

 唐领科技始终专注于为物联网行业的繁荣昌盛添一份助力。

此次展会中，唐领科技展示了两大测试解决方案，包含：RAIN INLINE高速标签生产测试仪、RFID Xplorer测试仪，展会现场展示的专业稳定的设备和成熟可靠的解决方案吸引了众多参展观众和参展商的驻足咨询，场面异常火爆。

在展会上， 唐领科技展出了最新的符合RAIN RFID标准的CISC RAIN Inline。CISC RAIN Inline是一款在生产工序中对RAIN Inlay和标签进行高速性能测试的设备，它为生产工序的始终提供质量保证。它带有一个GUI，协助用户对性能指标进行详细的了解。

Xplorer RAIN Inline高速标签生产测试设备

主要特点

1、测试速度100KUPH

2、800MHZ至1GHZ

3、TX功率范围从1dBm到28dBm

4、灵敏度-80 dBm

5、 读取EPC、TID和内存

6、写入存储器（编码）

7、测量标签在不同频率上的灵敏度

8、触发外部硬件的GPIO

9、用户接口USB

在线测试仪的优势

1、CISC Xplorer RAIN Inline帮助实时发现生产工序中的异常情况。      

2、节约时间和成本，用户可灵活创建性能矩阵用于更好的分析。

3、根据客户市场需求，高速测试一个RAIN RFID inlay或标签多个频点的性能

4、提高产品的整体质量管理水平。

同时，在展会现场还展出了高精度、便携可靠的CISC RFID Xplorer测试仪，集读写器测试、标签测试和读写器、标签通信分析的三合一体的设备。

CISC RFID Xplorer测试仪

读写器测试功能：1、通过一个标签仿真器评估RAIN RFID读写器的性能和规范性2、先进的移相VS灵敏度、阻抗VS灵敏度、Tx功率及Link Frequency VS 灵敏度等读写器测试方法3、读写器及不同标签的物理现象和通信特征4、分析RFID应用调试和新读写器开发（支持有线和无线）

在此次展会中唐领科技获得了很多更先进更专业的技术。未来，唐领科技一定会更努力，追求务实诚信的服务，坚持互助协作共赢的企业理念，以用户需求为导向，专注、专业、专心，紧随中国积极发展物联网的脚步，基于技术，品质，服务，诚信，致力成为中国物联网行业的优质技术服务商。

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